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日立S-3400N型鎢絲燈日立S-3400N型鎢絲燈掃描電子顯微鏡租賃

掃描電子顯微鏡(SEM) 利用的技術(shù)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，其使用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。S-3400N是日立公司推出的帶有VP模式(VariablePressure)，即可控氣體壓模式的一款高性能鎢燈絲掃描電鏡。通過VP模式，不導(dǎo)電樣品的直接觀測(cè)成為可能，使得原來不適合蒸鍍的樣品也可觀察，擴(kuò)展了應(yīng)用范圍。

一、設(shè)備租賃簡要說明

日立S-3400N型鎢絲燈掃描電子顯微鏡   

日立S-3400N型鎢絲燈掃描電子顯微鏡 設(shè)備簡介

S-3400N的很多設(shè)計(jì)提升了儀器性能并簡化了操作，對(duì)電鏡的使用者具有極大的實(shí)用價(jià)值。

 新的電子槍和透鏡設(shè)計(jì)，使得S-3400N在高低加速電壓下均可成高分辨像，并且自動(dòng)應(yīng)對(duì)加速電壓的數(shù)值調(diào)整電子槍的發(fā)射和透鏡補(bǔ)償，簡化了操作，沒有電鏡使用經(jīng)驗(yàn)的新用戶也可輕松享受低加速電壓帶來的應(yīng)用價(jià)值。

 新的軟硬件設(shè)計(jì)使得S-3400N具有優(yōu)異性能和強(qiáng)大的擴(kuò)展能力，同時(shí)操作簡易維護(hù)方便，此外還繼承了日立電鏡一貫具有的優(yōu)異的穩(wěn)定性。

新增加的自動(dòng)功能AAA(自動(dòng)合軸)和ABS(自動(dòng)束設(shè)定)簡化了操作。

S-3400N掃描電鏡的技術(shù)特點(diǎn)：  

1、新增加的自動(dòng)功能：AAA(自動(dòng)合軸)、ABS(自動(dòng)束設(shè)定)等

2、優(yōu)異的低加速電壓分辨率

3、實(shí)時(shí)的全屏、分割顯示和新的信號(hào)混合模式

4、新開發(fā)的高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭

5、強(qiáng)大的樣品裝載能力，可裝載直徑200mm的樣品

6、強(qiáng)大的擴(kuò)展能力，可同時(shí)安裝能譜、波譜和EBSP

7、快捷、潔凈的分子泵系統(tǒng)

8、電腦控制的優(yōu)中心、5軸馬達(dá)樣品臺(tái)，可傾斜-20~+90度(II型)

9、新穎的非接觸式的碰撞保護(hù)功能(II型)

●設(shè)備基本參數(shù)●

二、設(shè)備特點(diǎn)

日立HitachiS-3400N掃描電子顯微鏡設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動(dòng)化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實(shí)時(shí)圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實(shí)時(shí)信號(hào)混合并同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測(cè)器觀測(cè)到的互不相同的樣品信息。

1、電子光學(xué)系統(tǒng)的進(jìn)步

2、簡易的操作

3、新型高靈敏5分割背散射探頭

日立HitachiS-3400N掃描電子顯微鏡通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性，高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測(cè)器可以在快速掃描模式下運(yùn)行，這使得尋找大尺寸樣品中感興趣的區(qū)域更為簡單和便利。

4、分析型樣品室

5、電腦控制的5軸馬達(dá)樣品臺(tái)(II型)

6、維護(hù)方便

7、選配功能

三、設(shè)備檢測(cè)應(yīng)用  

掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。

S-3400N具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，具有更多的自動(dòng)化功能，操作界面更友好。主要功能有納米材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導(dǎo)體與非導(dǎo)體、地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。